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薄膜熱導率測試系統
型號:TCT-3RT/3
應用領域:
薄膜熱導率測試系統 TCT 是采用 3ω測試方法,利用微/納米薄膜材料導熱引起加熱器電信號的變化來檢測其熱導率。主要應用范圍為微/納米薄膜材料的熱導率測量,可廣泛應用于輔助各種功能薄膜材料的研究與開發,其涵蓋范圍包括集成電路散熱材料、熱阻材料、熱電材料、信息存儲與光電材料等。
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產品特點:
·采用交流電加熱方式,同時選擇并優化設計加熱電極的形狀與尺寸,可確保加熱均勻性及測試應用的廣泛性;
·待測薄膜樣品材料尺寸極小,所以能有效減小黑體輻射引起的測量誤差;
·高精度數字源表并結合鎖相放大技術,保證測量結果的準確性
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