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霍爾效應測試系統

型號:HET系列
應用領域:
材料物理創新實驗教學備霍爾效應測試系統 HET 是依據范德堡法測量材料的電運輸性能參數:載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等,薄膜或薄層材料均可測量. 可應用于所有半導體材料,包括 Si、ZnO、SiGe、SiC, GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可測量), 廣泛應 用于國內高校、研究所、半導體、金屬、高熱導有機新材料 等行業。
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