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熱電參數測試系統

型號：Namicro-3
應用領域：
熱電參數測試系統 Namicro 采用準動態法和四探針法分 別測量樣品的Seebeck 系數和電阻率。主要是用于測試塊體 熱電材料，包括康銅、鎳、鎢等金屬，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、 CuGaTe2、GeTe、CuS、Cu2ZnSnSe4等半導體及化合物，以及PANI、PEDOT等高分子聚合物。
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